薄膜測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量*的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
測量原理
使用兩個激光傳感器安裝在被測物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩定的支架上，確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的傳感器就開始對其表面進行采樣，分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離，測量值通過串口傳輸到計算機，再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理，得到目標的厚度值。
薄膜測厚儀的技術特征：
嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制。
測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統誤差。
支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
實時顯示測量結果的值、平均值以及標準偏差等分析數據，方便用戶進行判斷。
配置標準量塊用于系統標定，保證測試的精度和數據一致性。
系統支持數據實時顯示、自動統計、打印等許多實用功能，方便快捷地獲取測試結果。
系統由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進行試驗操作和數據查看。
標準的RS232接口，便于系統與電腦的外部連接和數據傳輸。
支持LystemTM實驗室數據共享系統，統一管理試驗結果和試驗報告。
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